|
zaznaczenia są sumowane
RODZAJE PRAC:
| 1 | | 7 | | 7 | | 1 | | 1 |
Eksporty
Wybrane prace:
0
|
| |
|
|
1
| 263695 | |
Aldona Kubala-Kukuś*, Dariusz Banaś*, Dariusz Czułek*, Krzysztof Domański*, Janusz Fidelus*, Marta Goliszek-Chabros*, Paweł Jagodziński*, Paweł Janus*, Magdalena A Kucharska, Urszula Maciołek*, Aldona Nowicka*, Piotr Prokaryn*, Andrzej Sierakowski*, Krzysztof Skrzypiec*, Weronika Sofińska-Chmiel*, Ilona Stabrawa*, Karol Szary*
Fabrication and metrological validation of a candidate AFM calibration standard based on silicon nanostructures. Social Science Research Network. 2026, s. 1-9. [Publikacja zarejestrowana jako preonline dn. 06.10.2026.]
Priorytetowe Obszary Badawcze: 2, 7
| 2026 | |
|
|
2
| 261091 | |
Bartosz Cz. Pruchnik, Dominik Badura, Władysław Kopczyński, Dariusz Czułek, Ivo Rangelow*, Andrzej Sierakowski*, Andrew Yacoot*, Virpi Korpolainen*, Teodor Gotszalk
Higher eigenmode atuation of active piezoresistive cantilevers for surface nanometrology. W: SPM workshop 2025 : seminář o metodách blízkého pole, Lednice 23.–25.4.2025. [B.m. : b.w., 2025]. s. 8-9.
Priorytetowe Obszary Badawcze: 6, 7
| 2025 | |
|
|
3
| 260444 | |
Krzysztof Skrzypiec*, Urszula Maciołek*, Marta Goliszek-Chabros*, Anna Nowicka*, Magdalena A Kucharska*, Paweł Janus*, Mirosław Grzywacki*, Andrzej Sierakowski*, Dariusz Banaś*, Aldona Kubala-Kukuś*, Ilona Stabrawa*, Karol Szary*, Paweł Jagodziński*, Dariusz Czułek*, Janusz Fidelus*, Weronika Sofińska-Chmiel*
Characterization of the island type silicon nanostructures for AFM calibration. W: XIII Workshop on Applications of Scanning Probe Microscopy – STM/AFM 2025, Zakopane, 26 - 30 November 2025. [B.m. : b.w.], 2025. s. 1-1.
Priorytetowe Obszary Badawcze: 6, 7
| 2025 | |
|
|
4
| 260453 | |
Dariusz Banaś*, Dariusz Czułek*, Krzysztof Domański*, Janusz Fidelus*, Marta Goliszek-Chabros*, Paweł Jagodziński*, Paweł Janus*, Aldona Kubala-Kukuś*, Magdalena A Kucharska*, Urszula Maciołek*, Anna Nowicka*, Piotr Prokaryn*, Andrzej Sierakowski*, Krzysztof Skrzypiec*, Weronika Sofińska-Chmiel*, Ilona Stabrawa*, Karol Szary*
Characterization of newly designed standards for calibration measurements using SPM techniques. W: InterNano Poland 2025, 8th-9th October 2025, Katowice, Poland. [B.m. : b.w.], 2025. s. 1-1.
Priorytetowe Obszary Badawcze: 6, 7
| 2025 | |
|
|
5
| 260447 | |
Dariusz Banaś*, Dariusz Czułek*, Krzysztof Domański*, Janusz Fidelus*, Marta Goliszek-Chabros*, Paweł Jagodziński*, Paweł Janus*, Aldona Kubala-Kukuś*, Magdalena A Kucharska*, Urszula Maciołek*, Anna Nowicka*, Piotr Prokaryn*, Andrzej Sierakowski*, Krzysztof Skrzypiec*, Weronika Sofińska-Chmiel*, Ilona Stabrawa*, Karol Szary*
Nanostructured silicon patterns as candidates for SPM calibration standards: analysis and development of measurement procedures. W: 17th International Conference on Nanomaterials – Research & Application (NANOCON 2025), Brno, Czech Republic, 15 - 17 October 2025. [B.m. : b.w.], 2025. s. 1-1.
Priorytetowe Obszary Badawcze: 6, 7
| 2025 | |
|
|
6
| 260451 | |
Dariusz Banaś*, Dariusz Czułek*, Krzysztof Domański*, Janusz Fidelus*, Marta Goliszek-Chabros*, Paweł Jagodziński*, Paweł Janus*, Aldona Kubala-Kukuś*, Magdalena A Kucharska*, Urszula Maciołek*, Anna Nowicka*, Piotr Prokaryn*, Andrzej Sierakowski*, Krzysztof Skrzypiec*, Weronika Sofińska-Chmiel*, Ilona Stabrawa*, Karol Szary*
Silicon-basedcalibration patterns with enhanced stability for accurate scanning probe microscopy. W: InterNanoPoland, 8th-9th October 2025, Katowice, Poland. [B.m. : b.w.], 2025. s. 1-1.
Priorytetowe Obszary Badawcze: 6, 7
| 2025 | |
|
|
7
| 260437 | |
Dariusz Banaś*, Dariusz Czułek*, Krzysztof Domański*, Janusz Fidelus*, Marta Goliszek-Chabros*, Paweł Jagodziński*, Paweł Janus*, Aldona Kubala-Kukuś*, Magdalena A Kucharska*, Urszula Maciołek*, Anna Nowicka*, Piotr Prokaryn*, Andrzej Sierakowski*, Krzysztof Skrzypiec*, Weronika Sofińska-Chmiel*, Ilona Stabrawa*, Karol Szary*
High-stability silicon calibration patterns enabling accurate SPM measurements. W: NANOCON 2025 : 17th International Conference on Nanomaterials - Research & Application, October 15 - 17, 2025 / Brno, Czech Republic, EU. [B.m. : b.w.], 2025. s. 1-1.
Priorytetowe Obszary Badawcze: 6, 7
| 2025 | |
|
|
8
| 260382 | |
Andrzej Sierakowski*, Bartosz Cz Pruchnik, Paweł Janus*, Magdalena A Kucharska*, Piotr Prokaryn*, Krzysztof Domański*, Krzysztof Skrzypiec*, Weronika Sofińska-Chmiel*, Dariusz Czułek*, Teodor Gotszalk
New probes and calibration structures for scanning probe microscopy. W: XIII Workshop on Applications of Scanning Probe Microscopy STM/AFM 2025, 26-30 November 2025 Zakopane, Poland : Book of Abstracts. Kraków : Faculty of Physics, Astronomy and Applied Computer Science Jagiellonian University, 2025. s. 88-88.
Priorytetowe Obszary Badawcze: 6, 7
| 2025 | |
|
|
9
| 251818 | 85219325256 |
Bartosz Cz. Pruchnik, Dominik Badura, Władysław Kopczyński, Dariusz Czułek*, Ivo Rangelow*, Virpi Korpolainen*, Andrzej Sierakowski*, Andrew Yacoot*, Teodor Gotszalk
Application of active piezoresistive cantilevers in high-eigenmode surface imaging. Measurement Science & Technology 2025 vol. 36, nr 1, art. 016020, s. 1-12. [Publikacja zarejestrowana jako preonline dn. 08.11.2024, rok zaliczenia 2024. Wersja ostateczna zarejestrowana 11.02.2025, rok zaliczenia 2025.]
| 2025 | |
|