|
zaznaczenia są sumowane
RODZAJE PRAC:
| 8 | | 1 | | 1 | | | | Dysertacje | | | 1 |
Eksporty
Wybrane prace:
0
|
| |
|
|
1
| 263773 | 105050461378 |
| 2026 | |
|
|
2
| 252073 | 85209634071 |
Jednostka: W10, W12N, PRB
| 2024 | |
|
|
3
| 245002 | 85195828650 |
Bartosz Cz. Pruchnik, Andrzej Sikora, Krzysztof R Gajewski, Bartosz Świadkowski, Piotr Smagowski, Dominik Badura, Krzysztof Kwoka, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk
Educational scanning tunneling microscope – open architecture platform for nanotechnology teaching and nanometrology research. Przegląd Elektrotechniczny 2024 R. 100, nr 6, s. 200-204.
| 2024 | |
|
|
4
| 243208 | 85191659583 |
Jednostka: W10, W12N, PRD
Marcin G. Winnicki, Wojciech Łapa, Bartosz Świadkowski
A novel approach to improve reliability of aerosol jet printing process. Eksploatacja i Niezawodność - Maintenance and Reliability 2024 vol. 26, nr 2, s. 1-21. [Publikacja zarejestrowana jako preonline dn. 23.01.2024, rok zaliczenia 2024. Wersja ostateczna zarejestrowana 23.01.2024, rok zaliczenia 2024.]
| 2024 | |
|
|
5
| 242994 | |
Bartosz Świadkowski
Technologie haptyczne w metrologii prowadzonej metodami mikroskopii bliskich oddziaływań. 171 s.
Priorytetowe Obszary Badawcze: 6
| 2023 | |
|
|
6
| 239164 | 85146107499 |
| 2023 | |
|
|
7
| 234046 | 85122615764 |
Karolina Orłowska, Bartosz Świadkowski, Andrzej Sierakowski*, Teodor Gotszalk
Photon force microelectromechanical system cantilever combined with a fibre optic system as a measurement technique for optomechanical studies. Measurement Science & Technology 2022 vol. 33, nr 2, art. 027001, s. 1-5.
| 2022 | |
|
|
8
| 227648 | 85091708994 |
| 2020 | |
|
|
9
| 226791 | 85082297006 |
Bartosz Świadkowski, Tomasz Piasecki, Maciej Rudek, Michał J Świątkowski, Krzysztof R Gajewski, Wojciech Majstrzyk, Michał Babij, Andrzej Dzierka, Teodor Gotszalk
ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems. Metrology and Measurement Systems 2020 vol. 27, nr 1, s. 119-130.
| 2020 | |
|
|
10
| 216634 | |
Majstrzyk W, Swiadkowski B, Kunicki P, Andrzej Sierakowski*, Rafał Dobrowolski*, Paweł Janus*, Gotszalk T
Atomic force microscopy with on-cantilever force and deflection control. W: MNE 2018 : International Conference on Micro and Nano Engineering : 24-27 September, 2018. [B.m. : b.w., 2018]. s. 1-1.
| 2018 | |
|